隨著快速數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)處理技術(shù)的發(fā)展，電子顯微鏡進(jìn)入了一個(gè)不僅重視數(shù)據(jù)質(zhì)量，而且重視其采集過(guò)程的時(shí)代

以“更高畫(huà)質(zhì)、更易于使用、更易于觀察”為理念，開(kāi)發(fā)出TM4000系列

型號(hào)：DektakXTDektakXT探針式輪廓儀采用革命性的臺(tái)式設(shè)計(jì)，可實(shí)現(xiàn)4Å（0.4nm）的優(yōu)異重復(fù)性，掃描速度可提高40%

DimensionFastScan原子力顯微鏡（AFM）系統(tǒng)經(jīng)過(guò)專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)，在不降低分辨率、不失去力控制、不增加設(shè)備復(fù)雜性，不帶來(lái)繁瑣操作的前提下，即可實(shí)現(xiàn)快速掃描

BrukerDimensionlcon”原子力顯微鏡為工業(yè)界和科研界納米領(lǐng)域的研究者帶來(lái)了全新的應(yīng)用體驗(yàn)，具有高水平的性能、功能和配件選擇，其測(cè)試功能強(qiáng)大，操作簡(jiǎn)便易行