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隨著快速數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)處理技術(shù)的發(fā)展，電子顯微鏡進(jìn)入了一個(gè)不僅重視數(shù)據(jù)質(zhì)量，而且重視其采集過程的時(shí)代

以“更高畫質(zhì)、更易于使用、更易于觀察”為理念，開發(fā)出TM4000系列

型號：DektakXTDektakXT探針式輪廓儀采用革命性的臺(tái)式設(shè)計(jì)，可實(shí)現(xiàn)4Å（0.4nm）的優(yōu)異重復(fù)性，掃描速度可提高40%

DimensionFastScan原子力顯微鏡（AFM）系統(tǒng)經(jīng)過專門設(shè)計(jì)，在不降低分辨率、不失去力控制、不增加設(shè)備復(fù)雜性，不帶來繁瑣操作的前提下，即可實(shí)現(xiàn)快速掃描

BrukerDimensionlcon”原子力顯微鏡為工業(yè)界和科研界納米領(lǐng)域的研究者帶來了全新的應(yīng)用體驗(yàn)，具有高水平的性能、功能和配件選擇，其測試功能強(qiáng)大，操作簡便易行

系統(tǒng)配置豐富，高分辨θ/θ閉環(huán)測角儀驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)、多位自動(dòng)換樣系統(tǒng)、包括多層膜反射鏡平行光系統(tǒng)的全自動(dòng)光學(xué)系統(tǒng)和二維陣列半導(dǎo)體探測器，配合功能齊全的控制和分析軟件，可在室溫和變溫條件下實(shí)現(xiàn)覆蓋固體粉末、薄膜、納米材料、塊體材料和液體樣品的常規(guī)衍射、掠入射衍射、in-plane衍射、X射線反射和小角X射線衍射(SAXS)等多種模式測量，可執(zhí)行高精度全自動(dòng)物質(zhì)結(jié)構(gòu)測試分析任務(wù)