系統配置豐富，高分辨θ/θ閉環測角儀驅動系統、多位自動換樣系統、包括多層膜反射鏡平行光系統的全自動光學系統和二維陣列半導體探測器，配合功能齊全的控制和分析軟件，可在室溫和變溫條件下實現覆蓋固體粉末、薄膜、納米材料、塊體材料和液體樣品的常規衍射、掠入射衍射、in-plane衍射、X射線反射和小角X射線衍射(SAXS)等多種模式測量，可執行高精度全自動物質結構測試分析任務

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