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型號：M50、M60和M80輕松檢驗、篩選、觀察或記錄
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產品分類17710506869
在寬的光譜范圍從190nm（深紫外）到3，500nm（近紅外）
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SENDIRA紅外光譜橢偏儀振動光譜的特點是傅立葉紅外光譜儀FTIR
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該設備利用背衍射法探測材料的晶體結構，常用于單晶定向、測定晶體對稱性、表征晶體的成晶質量等
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8600系列VSM采用大量的創新設計，在降低測量噪聲的同時提高了采樣速度
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MCS-EMP多用途電磁鐵平臺提供了自動化可變磁場實驗所需的所有基本組件，包括兩種尺寸可選（4英寸/7英寸）的電磁體，兩種尺寸可選（2英寸/4英寸）的磁極帽和磁體底座、以及電磁體系統控制柜
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